News

September 2019

25 September 2019
Electronica India 2019

Спасибо, что посетили наш стенд № EF31 выставке Electronica India

13 September 2019
SEMICON Taiwan 2019

Благодарим всех за посещение нашего стенда!

13 September 2019
Новый "hard-dock" интерфейс

Разработано новое прижимное устройство (интерфейс "hard-dock") для Тестеров FORMULA HF3

July 2019

12 July 2019
Итоги семинара в Воронеже

8 августа 2019 в городе Воронеж состоялся семинар

May 2019

17 May 2019
FORMULA HF의 스캔 테스트

올해 FORMULA HF 라인 테스트 시스템의 모든 사용자는 스캔 테스트 지원을받을 수 있습니다.

13 May 2019
Рабочее место Тестер – Хэндлер

Новое рабочее место на базе Тестеров FORMULA HF и автосортировщиков микросхем производства JHT Design

March 2019

11 March 2019
Semicon Китай 2019

Приглашаем Вас посетить наш стенд № T2115

06 March 2019
Диспетчер внешних устройств

На сайт добавлена статья о новом модуле из состава программного обеспечения Тестеров линейки FORMULA HF

February 2019

14 February 2019
ЭлектронТехЭкспо 2019

Благодарим всех, кто посетил наш стенд

December 2018

24 December 2018
NEPCON JAPAN 2019

Благодарим всех за посещение нашего стенда!

November 2018

08 November 2018
Electronica 2018

Мы продемонстрировали решения для входного контроля на базе популярных моделей тестеров