FORMULA HF Ultra Test System


FORMULA® HF Ultra 테스트 시스템은 당사 FORMULA® HF VLSI 회로 고주파 테스트 시스템 계열 의 주력 제품입니다.

목적 및 용도

FORMULA® HF 테스트 시스템은 초고주파 VLSI 회로의 기능 테스트 및 매개변수 테스트를 위한 자동 테스트 장비(ATE)입니다.

FORMULA®는 VLSI 회로의 품질 관리, 새로 개발된 유형의 VLSI 회 로 테스트와 연구 및 계열 제품의 생산 모니터링에 적용할 수 있습니 다.

FORMULA® HF Ultra는 마이크로전자 장치의 측정 및 테스트와 관 련된 계측 표준의 요건을 충족합니다.

주요 기술 특성

FORMULA® HF Ultra 테스트 시스템은 광범위한 VLSI 회로의 안정된 측정 및 테스트를 위한 제품입니다.

ATE의 주요 기술 특성은 다음과 같습니다

  • 범용 양방향 채널 수 — 최대 1024개
  • 기능 테스트 주파수 — 채널당 최대 550MHz
  • 정밀 발진기 기준 주파수 — 1200MHzz
  • 벡터/오류 메모리 - 최대 128M/128M 벡터
  • 전체 타이밍 정확도(OTA) - ±250피코초 이하
  • 아날로그 측정 장치 — 1200MOPS/24비트

FORMULA® HF Ultra 테스트 시스템은 기능상 완전한 VLSI 회로용 자동 측정 수단이며 다음과 같은 기능을 제공합니다.

  • 측정 및 테스트를 위한 확실 한 장비 준비
  • 측정 프로세스와 데이터 관 리의 모든 단계 자동화
  • 24시간 연중무휴 안정적인 작동
  • 자동화된 프로브, 자동 로더, 테스트 장비 및 계측기를 이 용한 작동 모드
  • 대용량 멀티사이트 모드s
  • 사용자에게 친숙한 완전한 기능의 소프트웨어
  • 신속하게 교환할 수 있는 측 정 액세서리 s
  • 자동 진단 및 계측 캘리브레 이션

FORMULA® 는 측정 및 테스트 작업의 범위에 따른 기본 및 보조 기기를 선택하여 장비 의 주문형 구성 원리를 구현하는 모듈형 버스 아키텍처를 갖추고 있습니다.

FORMULA® HF Ultra의 주요 하위시스템

1.

채널 수 1024개와 채널당 최고 주파수 550MHz의 기능 테스트 하 위시스템은 다음을 포함하고 있습니다.

  • VLSI 회로의 기능 테스트를 위한 무작위 테스트 시퀀스 생성기
  • 고속 메모리 VLSI 회로 및 기타 일반 로직을 테스트하 기 위한 아날로그 테스트 생 성기

FORMULA® 기능 테스트 하 위시스템의 특성 덕분에 이는 ASIC와 FPGA 등 최대 출력 수 가 1600–1700개인 슈퍼 통합 형 초고주파 VLSI 회로의 테스 트에 성공적으로 사용할 수 있 습니다.

단일 측정 사이클에서 기능 테 스트와 알고리즘 테스트 방법에 의해 VLSI 회로를 테스트할 수 있도록 테스트 시퀀스 생성기와 알고리즘 테스트 생성기의 동시 사용 모드가 제공됩니다.

2.

매개변수 측정 하위시스템 은 다음을 포함합니다.

다음 특성을 갖춘 정적 전기 매 개변수의 재현 및 측정용 하위 시스템.

  • • 각 채널에 대해 독립적으로 -1.5V ~ +13V 범위인 전압의 차동 신호를 포함하여 재현 된 4-레벨 신호의 범위
  • 측정 신호원의 범위
범위 신호원 수량
0…+6V, ±250µA…±4А VCC 측정 전원공급 장치 32
-2…+15V, ±200nA…±400mA VDD 측정 전원공급 장치 32
-2…+13V, ±200nA…±150mA PMU 다채널 계량기 32
-2…+13V, ±2µA…±50mA PPMU 단일 채널 계량기 1024
-17…+17V, –500mA…+500mA HVDD 측정 신호원 8
고출력 VLSI용 특수 전원공급 장치(멀티코어 마이크로프로세서, FPGA 및 높은 소비전력의 기타 마이크로회로)
4.5V/20А LVDD 고출력 전원공급 장치 2
3.5V/50А/100А SPS 전원공급 장치 1

단일 채널 PPMU 계량기를 사용하여 기저와 하우 징에서 마이크로회로의 병렬 고속 테스트에 대한 멀티사이트 모드를 실행할 수 있습니다.

HVDD 전원은 FLASH와 ROM을 프로그래밍할 뿐 만 아니라 아날로그 마이크로회로 테스트 및 증폭 기와 비교기를 작동하는 데도 사용됩니다.

3.

VLSI 회로의 동적 매개변수 측정용 정밀 하위시스템을 사용하여 신호의 전파 시간 지연, 펄스 지속시간, 리딩 에지와 트레일링 에지 및 VLSI 회로의 기타 일 시적 특성을 다음 특성에 기초하여 결정된 정확도로 측정할 수 있습니다.

  • 입력 펄스 트레일링 에지 (IEPA) ±150피코초 생성
  • 출력 펄스 트레일링 에지 (OEPA) ±250피코초 테스트c
  • 전체 타이밍 정확도(OTA) ±250피코초
  • 펄스 리딩 및 트레일링 에지의 최소 지속시간 – (275±150)피코초
  • 펄스 최소 지속시간 – (750±150)피코초
  • 시간 마커 증분은 11피코초로 설정됩니다.

이 하위시스템은 ATE의 범용 측정 채널을 기반으 로 합니다.

펄스 파형 및 테스트 대상 마이크로회로에 연결하 는 요건을 유지하기 위해 각 채널에 대해 독립적으 로 수신/송신 사이클의 신호 왜곡 보상 및 프로그래 밍 방식으로 100% ~ 25%의 신호 리딩/트레일링 에지 기울기 생성 기능이 제공되며 채널별로 독립 적으로 프로그래밍 및 구현됩니다

4.

BIST 기술

테스트 모델 단계에서 VLSI 회로의 회로내 테스트 를 수행하는 개발자들의 요구에 부응하여, FORMULA® HF Ultra 테스트 시스템은 BIST 기술을 사용할 수 있도록 개발되었습니다. ATE에 통합되 어 FPGA의 구성 파일 채우기 등 모든 표준 기능 을 지원하고 STAPL 언어 지원되는 통합형 JAM 플 레이어

5.

ARP 아날로그 측정 장치

FORMULA® 테스트 시스템은 1200MHz/1200MOPS/(–10… +10)V의 결합형 마이크로회로 (DAC와 ADC)를 측정할 수 있는 정밀 아날로그-디지털 장치를 갖 추고 있습니다. 이를 통해 입력에 서 최대 주파수 260MHz의 주기 적 신호가 생성되는 경우 최대 14 비트 고속 ADC 마이크로회로의 동적 및 정적 변환 매개변수를 측 정할 수 있으며 최대 16비트 저주 파 DAC 및 ADC 마이크로회로의 정적 변환 매개변수를 측정할 수 있습니다. ARP 장치는 다음과 같 은 기능 장치를 포함합니다

  • 최대 1200MHz의 정밀 2채널 클럭 펄스 생성기z
  • 고주파 및 저주파 채널을 포 함하고 변환 주파수가 최대 1200MOPS인 무작위 파형 신호 생성기
  • 전압 범위 -10V ~ +10V의 20/24비트 기준 전압원 2개

FORMULA® HF Ultra 를 사용하여 VLSI 회로의 외부 교란 테스트

FORMULA® 테스트 시스템의 디자인, 하드웨어 및 소프트웨어는 ThermoStream 장치와 흐름 챔버를 이용하는 측정과 결합한 테스트를 포함한 마이크 로회로 테스트에 최적의 조건을 제공합니다

케이블 사용하지 않고 신호 품질 손실 없이 다양한 온도 조건하에 스프링 기저에서의 측정도 지원됩 니다.

시스템 디자인의 우선적인 과제 중 하나는 ATE가 최소의 신호 손실과 왜곡으로 테스트 대상 VLSI 회 로에 대해 신호를 양방향으로 전송하는 방법을 개 발하는 것이었습니다.

정상 조건은 물론 –60°C ~ +125°C 온도 범위의 측 정도 가능하도록 설계된 오리지널 신세대 접점 시 스템은 특히 FORMULA® HF Ultra 테스트 시스템 에 적합하도록 개발되었습니다.

안정성, 편의성, 빠른 설치 및 측정 액세서리의 부 착과 교체는 정밀 스프링 장치, 대형 액세서리용 특 수 프레임 및 최소 100만 개의 액세서리 연결을 보 장하는 POGO-PIN 접점을 사용하여 달성됩니다.

ATE에는 프로브, 테스트 장비 및 외부 계측기를 포 함한 외부 장비와 통합하는 수단이 마련되어 있습 니다.

측정 장치 회전 조작기에는 모든 작동 모드에서 최 적의 워크스테이션 인간공학을 구현하기 위해 전 자 제어장치를 포함한 전기 리드가 있습니다.

FORMULA® HF Ultra 테스트 시스템 소프트웨어 세트

FORMULA® 테스트 시스템 소 프트웨어 세트는 측정 과정의 모든 단계에 적합하게 설계된 단일 그래픽 인터페이스(GUI)를 포함한 FormHF 미디어입니다. 소프트웨어 개발 및 디버그, 측 정, 편차 분석에 “다섯 단계”만 필요합니다.
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측정 액세서리

FORMULA® 딜리버리 패키지는 액세서리 보드용 표준 설치 프레임 및 고객에 의한 독립적 액세서리 개발을 위한 완전한 문서를 포함하고 있습니다.

프레임 디자인은 다양한 치수의 액세서리의 사용을 지원합니다.

주문형 및 공장형 TestBox® 테스트 솔루션

FORMULA® 테스트 시스템 사용자가 더 빠르게 자신의 사업 목표를 달성하고 투자 수익을 바로 확인할 수 있도록, FORM은 특정 유형(정상 조건 또는 초저온/초고온의 조건하에)의 마이크로회로를 측정할 수 있는 공장형 및 주문형 TestBox® 테스트 솔루션을 모두 제공합니다.

각 TestBox® 테스트 솔루션은 다음을 포함합니다.

  • 특정 유형의 VLSI를 연결하기 위한 전문적인 도구
  • VLSI 회로 테스트 및 측정 소프트웨어를 포함 한 디스크
  • TestBox® 사용 설명서를 포함한 데이터 시트
  • 제조사 보증

당사 테스트 실험실의 노련한 엔지니어 그룹이 테 스트 솔루션용 디자인과 소프트웨어를 개발합니 다. TestBox® 테스트 솔루션은 ECB와 전자 부품 에 대한 규정, 기술 요건 및 고객 사양에 부합하므 로 품질이 우수합니다

TestBox®를 사용하면 고객은 자신의 제품을 출시 하는 데 필요한 시간을 획기적으로 줄일 수 있습 니다.

FORMULA® 테스트 시스템 사용자가 현재 550개 이상의 이미 개발된 테스트 솔루션 유형을 사용하 여 전자 부품의 품질 관리를 할 수 있도록 일관성 있는 계측 지원을 제공하고 있습니다.

Testbox

제조사 서비스

지원 작업에 소요되는 고객의 시간과 비용을 줄이기 위해 FORMULA® HF Ultra 테스트 시스템 사용자에 대해 다음과 같은 기술 서비스를 제공합니다.

  • 외부 장비, 계측기 및 IT 네트워크 연결을 포 함하여 고객의 기술, 정보 및 테스트 인프라에 FORMULA® HF Ultra 테스트 시스템 통합
  • ATE가 운영되는 장소에서 예약 유지보수, 수리 및 계측 서비스
  • 측정의 추적성을 보장하기 위해 데이터베이스 를 포함한 FORMULA® HF Ultra 테스트 시스 템 기반의 워크스테이션 구성
  • 전형적 옵션 목록에 따라, 또는 사용자 지정 옵 션을 통해 ATE 구성 확장

FORMULA® 테스트 시스템의 딜리버리 구성

FORMULA® HF Ultra 테스트 시스템은 모듈형 버 스 아키텍처를 포함하고 있으며 사용자 측정 수단 의 유형 설명에 나타난 디자인 버전에 따라 주문형 하드웨어 및 소프트웨어를 구성할 수 있습니다.

각 테스트 시스템의 구성은 사용자의 작업, 요건 및 취향을 분석하여 결정되며 딜리버리 사양 및 각 테스트 시스템의 데이터 시트에 이를 반영합니다.

딜리버리 세트에는 완전한 운영과 계측 문서 및 초 기 캘리브레이션 인증서가 포함되어 있습니다.

제조사 보증 및 운영자 지원

FORMULA® 테스트 시스템의 운영 중 보증 서비 스 및 유지보수는 개발자 및 제조사인 FORM이 제 공합니다.

하드웨어 보증은 1년이며 보증 수리 및 당사 엔지 니어가 직접 방문하여 ATE를 보증 수리 및 계측 캘리브레이션하는 서비스도 무료로 제공합니다.

보증 기간이 만료된 경우, FORM은 고객에게 서비 스 계약을 제공하며 고객 개인별 요청에 따라 기술 서비스 및 계측 서비스를 제공합니다.

FORM 기술 지원 서비스를 통해 FORMULA® 테 스트 시스템 사용자는 다음과 같은 서비스를 제한 없이 무료로 누릴 수 있습니다.

  • 터미널 세션 중 전화 및 이메일, 팩스를 통한 자 문과 FORM에 직접 방문 자문
  • 불만 발생시 계측 분석 지원
  • ATE에 대한 원격 진단(오류 검출 포함)
  • 소프트웨어 버전 업데이트
  • 유지보수 및 수리
  • 새 ATE 옵션 및 새 테스트 솔루션에 관한 정보

딜리버리 시간 및 가격

FORMULA® HF Ultra 테스트 시스템의 딜리버리 시간은 구 성에 따라 9 ~ 15주입니다.

비용에는 다음 사항이 포함되어 있습니다.

  • 1년 보증
  • 고객의 주소로 배송되고 고객 지정 장소에서 ATE 설치 및 연결
  • 테스트 프로그램의 FORMULA® ATE 운영 개발 규칙에 대한 고객 이나 직원에게 교육 실시
  • TestBox® 테스트 솔루션이 적용된 테스트 시스템 시운전