FORMULA® TT3 Test System
개발 중
FORMULA® TT3 ATE 의 측정 프로세스에는 모든 단계에서 높은 수 준인 종합적 자동화가 실현되었으므로 고객은 운영 기능 및 테스트 대상 반도체 소자의 편차 분석 등 가장 중요한 작업에 집중할 수 있게 됩니다
테스트 시스템을 통해 실현된 하드웨어/소프트웨어, 디자인 및 계량 솔루션이 매우 안정된 결과를 보장하고 테스트 인원을 일상적인 작업 과 오류로부터 해방해 주며, 산업용 시설에서 측정 및 테스트를 수행 할 경우 운영 효율을 대폭 향상시킬 수 있습니다.
목적 및 용도
FORMULA® TT3 테스트 시스템은 전계 효과 트랜 지스터(FET)와 바이폴라 트랜지스터 및 IGBT, 다이 오드, 사이리스터, 전압 조절기 다이오드, 옵트론 및 마이크로어셈블리 등 반도체 소자의 정적 매개변수 를 포괄적으로 자동 검증하도록 설계되고 다음과 같 은 기능을 제공하는 다목적 테스트 및 측정 시스템입 니다. 또한 다음과 같은 사항도 검증 가능합니다
- 캐패시턴스 측정: 전계 효과 트랜지스터와 IGBT의 입력, 상호 및 출력 캐패시턴스
- 전하 측정: 전계 효과 트랜지스터와 IGBT의 게 이트 드레인, 게이트 소스 및 총 전하
- 수동 소자의 개별 매개변수(L, C, R) 측정
T본 테스트 시스템은 새로 개발된 유형의 반도체 소자의 테스트와 연 구 수행 및 계열 생산의 생산 중 테스트 시 반도체 소자의 품질 관리 에 적용됩니다.
FORMULA® TT3은 마이크로전자 장치의 측정 및 테스트에 대한 계 량 표준의 요건을 충족합니다
기본적인 기술 특성 및 기능
FORMULA® TT3 테스트 시스템은 반도체 소자 매개변수의 매우 안정된 측정을 수행하기 위해 개발되었 습니다. 이 테스트 시스템의 주요 기술 특징은 다음과 같습니다.
이 테스트 시스템은 광범위한 반도체 소자를 측정하기 위한 기능상 완벽하게 자동화 된 도구이며 사용자에게 다음과 같은 이점을 제공합니다.
- 측정 및 테스트를 위한 확실한 장비 준비
- 측정 프로세스와 데이터 관리의 모든 단계 자동화
- 자동화된 프로브, 자동 로더, 테스트 장비 및 계 측기를 이용한 작동 모드
- 대용량 멀티사이트 모드
- 24시간 연중무휴 안정적인 작동
- 사용자에게 친숙한 완전한 기능의 소프트웨어
- 신속하게 교환할 수 있는 측정 액세서리
- 자동 진단 및 계량 캘리브레이션n
- 클라이언트측의 대표적인 요구에 대한 독립된 계량 테스트용 특수 솔루션(모델 기기를 연결하 기 위한 테스트 잭).
사용 편의를 위해 FORMULA® TT3 테스트 시스템은 다음과 같은 기능이 있습니다.
- 고출력 트랜지스터 측정용 짧은 펄스(300µs부 터) 모드 - 테스트 대상에서 기술적으로 어려운 열 제거의 필요성을 없앰.
- 출력 매개변수가 테스트 대상의 지속시간 및 전 압/전류에 미치는 영향 프로그래밍.
- 트랜지스터 및 다이오드 어셈블리를 테스트하기 위한 멀티칩 모드.
- 볼트-암페어 응답 및 볼트-패러드 응답의 측정이 가능한 테스트 대상 연구 모드;
- 칩상 및 하우징 내에서 2nA부터 시작하는 저전 류 범위의 정밀 측정 모드;
- FET 및 IGBT의 캐패시턴스 특성을 측정하기 위 한 모드.
- FET 및 IGBT의 전하 특성을 측정하기 위한 모드.;
- 4선 방식에 의해 반도체 소자와 연결된 모든 유 형의 측정.
작업 영역 인간공학 및 안전
이 디자인은 고압 측정 영역의 신뢰할 만한 보호를 보장하므로 운영 자에 대한 완전한 전기 안전을 보증합니다.
수동 측정 모드에서 운영자는 “시작(Start)” 버튼 및 테스트한 기기를 다양한 적합성 그룹별로 정렬하는 옵션이 있는 “동의(Accept)”와 “거 부(Reject)” 결과를 표시하는 디스플레이 패널만 작업합니다. 모든 유 형의 측정이 끝난 후 디스플레이에는 최대 69종의 등급을 사용하여 적합성 그룹 수를 표시합니다.
외부 장비와 통합 수단
FORMULA® TT3 테스트 시스템은 프로브, 테스트 장비, 외부 기기, 자동 로더 및 자동 소터 등 국내와 외국에서 제조한 외부 장비와 통합 하기 위한 하드웨어 및 소프트웨어를 갖추고 있습니다.
ATE 재구성의 일부로 시스템을 구입할 때 또는 구입한 후, 운영 중에 옵션이 제공됩니다.
특수 소프트웨어 모듈, 스위치와 통합형 핸들러, RS232, GPIB 및 LAN포트를 포함한 ATE 통합용 옵션이 있습니다.
반도체 소자 테스트에 FORMULA® TT3 사용
테스트 시스템의 디자인, 하드웨어 및 소프트웨어는 측정과 결합한 테 스트(예: 고온-저온 챔버 사용)를 포함하여 반도체 소자 테스트에 양 호한 조건을 조성합니다.
ThermoStream 고온-저온 챔버가 설치한 FORMULA® 워크스테이션 의 일반적인 뷰는 그림 9와 같습니다.
FORMULA® TT3 테스트 시스템 소프트웨어
측정 액세서리
FORMULA® TT3 테스트 시스템 딜리버리 패키지는 사용자가 최대 한 빨리 시스템을 운영할 수 있게 되며 더 짧은 시간 내에 투자 수익 을 받을 수 있도록 FORM이 개발 및 제조한 다양한 유형의 측정 액세 서리를 포함합니다(그림 8).
주문형 및 공장에서 완성된 TestBox® 테스트 솔루션
FORMULA® 테스트 시스템 클라이언트가 더 빠르게 자신의 사업 목 표를 달성하고 투자 수익을 바로 확인할 수 있도록, FORM은 특정 유 형의 마이크로회로를 측정할 수 있는(정상 미달 조건 및 초저온/초고 온의 영향을 받는 조건) 공장에서 준비된 그리고 주문형 TestBox® 테스트 솔루션을 모두 제공합니다.
각 TestBox® 테스트 솔루션은 다음을 포함합니다.:
- 특정 유형의 VLSI를 연결하기 위한 전문화된 도구
- VLSI 회로 테스트 및 측정 소 프트웨어를 포함한 디스크
- TestBox® 사용 설명서를 포 함한 데이터 시트
- 제조자의 보증서
당사 테스트 실험실의 노련한 엔지니어 그룹이 테스트 솔루션용 디 자인과 소프트웨어를 개발합니다. TestBox® 테스트 솔루션은 ECB와 전자 부품에 대한 규정, 기술 요건 및 클라이언트 사양에 부합하므로 품질이 우수합니다.
클라이언트는 TestBox®를 구입할 경우 자신의 제품을 출시하는 데 필요한 시간을 획기적으로 줄일 수 있습니다.
FORMULA® 테스트 시스템 클라이언트가 현재 550개 이상의 이미 개발된 테스트 솔루션 유형을 사용하여 전자 부품의 품질 관리를 할 수 있도록 일관성 있는 계량 지원을 제공하고 있습니다.
제조자의 서비스
지원 작업에 소요되는 클라이언트의 시간과 비용을 줄이기 위해 FORMULA® TT3 테 스트 시스템 클라이언트에 대해 다음과 같은 기술 서비스를 제공합니다
- 외부 장비, 계측기 및 IT 네트워크 연결을 포함 하여 클라이언트의 기술, 정보 및 테스트 인프라 에 FORMULA® TT3 테스트 시스템 통합
- ATE가 운영되는 장소에서 예약 유지보수, 수리 및 계량 서비스
- 측정의 추적성을 보장하기 위해 데이터베이스를 포함한 FORMULA® TT3 테스트 시스템 기반의 워크스테이션 구성 s
- 전형적 옵션 목록에 따라, 또는 주문형 옵션 개 발을 통해 ATE 구성 확장
FORMULA® 테스트 시스템의 딜리버리 구성
FORMULA® TT3 테스트 시스템은 모듈형 버스 아 키텍처를 포함하고 있으며 사용자 측정 수단의 유 형 설명에 나타난 디자인 버전에 따라 주문형 하드 웨어 및 소프트웨어를 구성할 수 있습니다
각 테스트 시스템의 구성은 클라이언트의 작업, 요 건 및 취향을 분석하여 결정되며 딜리버리 사양 및 각 테스트 시스템의 데이터 시트에 이를 반영합니 다
딜리버리 세트에는 완전한 운영과 계량 문서 및 초 기 캘리브레이션 인증서가 포함되어 있습니다.
제조자의 보증서 및 운영자 지원
FORMULA® 테스트 시스템의 운영 중 보증 서비스 및 유지 보수는 개발자 및 제조자 FORM이 제공합니다.
하드웨어 보증은 1년이며 ATE의 보증 수리 및 수시 계량 캘 리브레이션이 운영되는 장소에 엔지니어가 무료로 방문하 여 제공합니다.
보증 기간이 만료된 경우, FORM은 클라이언트에게 서비스 계약의 기회를 제공하며 개별 클라이언트가 요청할 경우 기 술 서비스 및 계량 서비스를 제공합니다.
FORM 기술 지원 서비스는 FORMULA® 테스트 시스템 클 라이언트에 대해 다음과 같은 무제한 무료 서비스를 제공합 니다.
- 터미널 세션 중의 전화, 이메일 및 팩스를 통한 자문뿐만 아니라 FORM 구내에서 직접 자문도 가능
- 계량 준수 분석 지원
- 오류 탐지를 포함한 원격 ATE 진단
- 소프트웨어 버전 업데이트
- 유지보수 및 수리 조정
- 새 ATE 옵션 및 새 테스트 솔루션에 관한 정보
딜리버리 시간 및 가격
FORMULA® TT3 테스트 시스 템의 딜리버리 시간은 구성에 따라 9 ~ 15주입니다.
비용에는 다음 사항이 포함되어 있습니다.:
- 1년 보증
- 클라이언트의 주소로 배송되 고 클라이언트의 구내에서 ATE 설치 및 연결
- 테스트 프로그램의 FORMULA® ATE 운영 개발 규 칙에 대한 클라이언트의 인 원 교육
- TestBox® 테스트 솔루션의 애플리케이션을 이용한 테스 트 시스템 시운전