News

February 2019

14 February 2019
ЭлектронТехЭкспо 2019

Благодарим всех, кто посетил наш стенд

December 2018

24 December 2018
NEPCON JAPAN 2019

Благодарим всех за посещение нашего стенда!

November 2018

08 November 2018
Electronica 2018

Мы продемонстрировали решения для входного контроля на базе популярных моделей тестеров

October 2018

30 October 2018
Testing & Control 2018

В Москве прошла Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования

01 October 2018
Nepcon Vietnam 2018

Посетители нашего стенда узнали о наиболее популярных моделях линейки Тестеров FORMULA

August 2018

17 August 2018
SEMICON Taiwan 2018

FORM attended SEMICON Taiwan in Taipei, the premier event in Taiwan for microelectronics manufacturing

June 2018

28 June 2018
Nepcon Thailand 2018 Expo, Бангкок 20-23 июня

Совсем недавно мы вернулись с международной выставки Nepcon Thailand 2018 Expo в Бангкоке

March 2018

19 March 2018
ELECTRONICA CHINA 2018, Шанхай 14-16 марта

Наши специалисты представили готовые решения для измерительных задач лабораторий входного контроля, дизайн-центров, серийного производства и испытаний ЭКБ

February 2018

27 February 2018
конференция «СЕРТИФИКАЦИЯ ЭКБ-2018»

ФОРМ принял участие в Международной научно-технической конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой»

December 2017

01 December 2017
выставка Semicon Japan 2017

На стенде были продемонстрированы хорошо зарекомендовавшие себя в отрасли серийные модели Тестеров: FORMULA TT2 для контроля полупроводниковых приборов и FORMULA HF3 для контроля высокочастотных СБИС