News
April 2017
Участие в выставке ЭлектронТехЭкспо 25-27 апреля 2017
Мы познакомили гостей с нашей новой моделью Тестера полупроводниковых приборов – FORMULA TT3
March 2017
Конференция «СЕРТИФИКАЦИЯ ЭКБ-2017»
Представители «ФОРМ» приняли участие в практической конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой»
November 2016
Представляем вашему вниманию новую разработку: Тестер FORMULA SD
Тестер FORMULA SD – универсальное автоматизированное средство измерений статических и динамических параметров полупроводниковых приборов
Обновленная линейка контактирующих устройств
Контактирующие устройства были разработаны специалистами нашей Компании взамен применявшимся ранее изделиям стороннего производства
May 2016
Втрое увеличена скорость «прошивки» на Тестере FORMULA HF Ultra
Теперь начальную инициализацию наиболее высокоинтегрированных ПЛИС, таких как STRATIX4, ф.ALTERA, можно выполнить на тестере FORMULA HF Ultra через «STAPL Player» всего за 22 секунды без использования байтбластера и САПР Quartus
April 2016
ФОРМ на MetrolExpo 2016
На 12-й выставке средств измерений и метрологического обеспечения MetrolExpo - 2016 мы представили новаторский продукт – Лабораторию входного контроля iLForm
March 2016
Выставка лаборатории входного контроля
Ведущий журнал «Современная Электроника»
Ведущий журнал «Современная Электроника» для специалистов, менеджеров и руководителей предприятий, занимающихся разработкой и производством электронной техники, представил статью в выпуске №3 от 2016 года «О российском средстве измерений параметров полупроводниковых приборов - FORMULA ТТ2»
January 2016
Статья о Formula HF Ultra в журнале «Современная электроника»
Для выполнения программы импортозамещения в области СБИС требуются современные автоматизированные средства измерений, которые должны обладать не только передовыми техническими характеристиками, но и соответствовать государственным метрологическим стандартам