FORMULA HF3 platform test systems
FORMULA® HF3 플랫폼 테스트 시스템
FORMULA® HF3 플랫폼 테스트 시스템 은 FORMULA® HF3 및 FORMULA® HF3 512 두 모델로 공급되며 광범위한 고속 VLSI 회로, 마이크로컨트롤러, 정적 및 동 적 메모리, 마스터슬라이스 VLSI 회로, ASIC, FPGA 및 최대 신호 출력 256/512 개와 작동 주파수 200MHz인 기타 소자 의 기능 테스트용 제품입니다.
목적 및 용도
The FORMULA® HF3 테스트 시스템은 초고주파 VLSI 회로의 기능 및 매개변수 테스트용 자동 테스트 장비(ATE)입니다.
FORMULA®는 VLSI 회로의 품질 관리, 새로 개 발된 유형의 VLSI 회로 테스트와 연구 및 계열 제품의 생산 모니터링에 적용할 수 있습니다.
The FORMULA® HF3은 마이크로전자장치의 측정 및 테스트와 관련된 계측 표준의 요건을 충족 합니다.
FORMULA® HF3 플랫폼 시스템의 기본 기술 특성 및 기능
The FORMULA® HF3 테스트 시스 템은 광범위한 VLSI 회로의 안정 된 측정 및 테스트를 위한 제품 입니다.
이 테스트 시스템의 주요 기술 특 성은 다음과 같습니다:
- 범용 양방향 채널 수 - 최대 256/512개
- 기능 테스트 주파수 - 채널별 최 대 200MHz
- 벡터/오류 메모리 - 최대 64M/64M 벡터
- 전체 타이밍 정확도(OTA) - ±700피코초 이하
The FORMULA® HF3 테스트 시스템은 VLSI 회로에 대한 기능상 완 전한 자동 측정 수단이며 다음과 같은 기능을 제공합니다.
- • 측정 및 테스트를 위한 확 실한 장비 준비
- 측정 프로세스와 데이터 관리의 모든 단계 자동화
- 자동화된 프로브, 자동 로 더, 테스트 장비 및 계측기 를 이용한 작동 모드
- 대용량 멀티사이트 모드
- 24시간 연중무휴 안정적 인 작동
- 사용자에게 친숙한 완전한 기능의 소프트웨어
- 신속하게 교환할 수 있는 측정 액세서리
- 자동 진단 및 계측 캘리브 레이션
FORMULA® 는 측정 및 테스트 작업의 범위에 따른 기본 및 보조 기기를 선택하여 장 비의 주문형 구성 원리를 구현하는 모듈형 버스 아키텍처를 갖추고 있습니다.
기술적 이점
이 시스템에서 실현된 하드웨어, 소프트웨어, 디자인 및 기술 솔루션은 VLSI 회로의 측정, 테스트 수행 및 수입 검사에 중요한 특성과 기능을 제공합니다.
이 테스트 시스템을 이용하여 광범위한 VLSI 회로의 포괄적 테스를 수행할 수 있습니다.
기본 FORMULA® HF3/3-512 하위시스템
채널 수 256/512개와 채널당 최고 주파수 200MHz의 기능 테스트 하위시스템은 다음을 포 함하고 있습니다
- VLSI 회로의 기능 테스트를 위한 무작위 테스 트 시퀀스 생성기
- 고속 메모리 VLSI 회로 및 기타 일반 로직을 테 스트하기 위한 아날로그 테스트 생성기
대용량 벡터 메모리(채널당 64M)와 독립형 오류 메모리(채널당 64M)는 채널 간 최대 2G의 메모리
결합이 가능하며, 모든 표준 명령을 지원합니다. 그로므로 거의 제한이 없는 양의 기능 테스트를 수 행할 수 있어 VLSI 회로 검증에 있어서 철저한 테 스트를 제공합니다.
ATE 범용 채널 신호의 특성 덕분에 RF VLSI 회로 의 고품질 측정을 보장하며 기능 테스트 주파수 200MHz의 신호에 대한 요건을 완전히 충족합니 다.
- 펄스 리딩 및 트레일링 에지 최소 지속시간 – (0.7±0.15) ns
- 최소 펄스 지속시간 – (1.65±0.15)ns.
- 각 채널에 대해 독립적으로 -1.5V ~ +13V 범위인 전압의 차동 신호를 포함하여 재현된 4-레벨 신호의 범위
- 측정 신호원의 범위
| 범위 | 신호원 | 수량 |
|---|---|---|
| 0…+6V, ±250µA…±4А | VCC 측정 전원공급 장치 | 8/16 |
| -2…+15V, ±200nA…±400mA | VDD 측정 전원공급 장치 | 8/16 |
| -2…+13V, ±200nA…±150mA | PMU 다채널 계량기 | 8/16 |
| -2…+11V, ±2µA…±32mA | PPMU 단일 채널 계량기 | 256/512 |
단일 채널 PPMU 계량기를 사용하여 기저와 하우징에서 마이크로회로의 병렬 고속 테스트에 대한 멀 티사이트 모드를 실행할 수 있습니다.
각 32채널 핀 전자장치 모듈의 고전압 “33채널”은 최대 15V의 전압을 가지며 FLASH 및 ROM 프로그 래밍, 그리고 연산증폭기와 비교기 등 아날로그 마이크로회로의 테스트에 사용할 수 있습니다.
- 입력 펄스 트레일링 에지(IEPA) ±150피코초 생성
- 출력 펄스 트레일링 에지(OEPA) ±250피코초 테스트
- 전체 타이밍 정확도(OTA) ±700피코초
- 펄스 리딩 및 트레일링 에지의 최소 지속시간 – (700±150)피코초
- 최소 펄스 지속시간 – (1,65±0,15)나노초
- 시간 마커 증분은 34피코초로 설정됩니다.
테스트 모델 단계에서 VLSI 회로의 회로내 테스트를 수행하는 개 발자들의 요구에 부응하여, FORMULA® HF Ultra 테스트 시스템 은 BIST 기술을 사용할 수 있도록 개발되었습니다. ATE에 통합되어 FPGA의 구성 파일 채우기 등 모든 표준 기능을 지원하고 STAPL 언 어 지원되는 통합형 JAM 플레이어를 갖춘 JTAG 포트가 이 목적으로 사용됩니다.
FORMULA® HF Ultra를 사용하여 VLSI 회로의 외부 교란 테스트
FORMULA® 테스트 시스템의 디자인, 하드웨어 및 소프트웨어는 ThermoStream 장치와 흐름 챔 버를 이용하는 측정과 결합한 테스트를 포함한 마 이크로회로 테스트에 최적의 조건을 제공합니다
스프링 장치가 포함된 원본 내열 UAP 어댑터는 FORMULA® HF3 테스트 시스템용으로 특별히 개 발되었으며, 최대 256개의 신호 출력이 있는 VLSI 회로 테스트를 위해 FORMULA HF3–512 테스트 시스템에도 사용됩니다. POGO-PIN 접점이 UAP 어댑터에 위치한 부분을 통해 초소형 액세서리를 사용할 수 있으므로 측정 준비 비용이 절감됩니다.
케이블 사용하지 않고 신호 품질 손실 없이 다양 한 온도 조건하에 스프링 기저에서의 측정도 지원 됩니다.
정상 조건은 물론 –60°C ~ +125°C 온도 범위의 측 정도 가능하도록 설계된 오리지널 신세대 접점 시 스템은 특히 FORMULA® HF Ultra 테스트 시스템 에 적합하도록 개발되었습니다
안정성, 편의성, 빠른 설치 및 측정 액세서리의 부 착과 교체는 정밀 스프링 장치, 대형 액세서리용 특수 프레임 및 최소 100만 개의 액세서리 연결 을 보장하는 POGO-PIN 접점을 사용하여 달성됩 니다.
ATE에는 프로브, 테스트 장비 및 외부 계측기를 포 함한 외부 장비와 통합하는 수단이 마련되어 있습 니다.
측정 장치 회전 조작기에는 모든 작동 모드에서 최 적의 워크스테이션 인간공학을 구현하기 위해 전 자 제어장치를 포함한 전기 리드가 있습니다.
FORMULA® HF 3 테스트 시스템 소프트웨어 세트
테스트 픽스쳐
FORMULA® 딜리버리 패키지는 액세서리 보드용 표준 설치 프레임 및 고객에 의한 독 립적 액세서리 개발을 위한 완전한 문서를 포함하고 있습니다.
프레임 디자인은 다양한 치수의 액세서리의 사용을 지원합니다.
주문형 및 공장형 TestBox® 테 스트 솔루션
FORMULA® 테스트 시스템 사용자가 더 빠 르게 자신의 사업 목표를 달성하고 투자 수 익을 바로 확인할 수 있도록, FORM은 특정 유형(정상 조건 또는 초저온/초고온의 조건 하에)의 마이크로회로를 측정할 수 있는 공 장형 및 주문형 TestBox® 테스트 솔루션을 모두 제공합니다
각 TestBox® 테스트 솔루션은 다음을 포함합니다.
- 특정 유형의 VLSI를 연결하기 위한 전문 적인 도구
- VLSI 회로 테스트 및 측정 소프트웨어를 포함한 디스크
- TestBox® 사용 설명서를 포함한 데이터 시트
- 제조사 보증
당사 테스트 실험실의 노련한 엔지니어 그 룹이 테스트 솔루션용 디자인과 소프트웨어 를 개발합니다. TestBox® 테스트 솔루션은 ECB와 전자 부품에 대한 규정, 기술 요건 및 고객 사양에 부합하므로 품질이 우수합니다
TestBox®를 사용하면 고객은 자신의 제품 을 출시하는 데 필요한 시간을 획기적으로 줄일 수 있습니다.
FORMULA® 테스트 시스템 사용자가 현재 550개 이상의 이미 개발된 테스트 솔루션 유형을 사용하여 전자 부품의 품질 관리를 할 수 있도록 일관성 있는 계측 지원을 제공 하고 있습니다.
TestBox®
제조사 서비스
지원 작업에 소요되는 고객의 시간과 비용을 줄이기 위해 FORMULA® HF Ultra 테스트 시스템 사용자에 대해 다음과 같은 기술 서비스를 제공합니다.
- 외부 장비, 계측기 및 IT 네트워크 연결을 포 함하여 고객의 기술, 정보 및 테스트 인프라에 FORMULA® HF3 테스트 시스템 통합
- ATE가 운영되는 장소에서 예약 유지보수, 수리 및 계측 서비스
- 측정의 추적성을 보장하기 위해 데이터베이스 를 포함한 FORMULA® HF3 테스트 시스템 기 반의 워크스테이션 구성
- 전형적 옵션 목록에 따라, 또는 사용자 지정 옵 션을 통해 ATE 구성 확장
FORMULA® 테스트 시스템의 딜리버리 구성
FORMULA® HF Ultra 테스트 시스템은 모듈형 버 스 아키텍처를 포함하고 있으며 사용자 측정 수단 의 유형 설명에 나타난 디자인 버전에 따라 주문형 하드웨어 및 소프트웨어를 구성할 수 있습니다.
각 테스트 시스템의 구성은 사용자의 작업, 요건 및 취향을 분석하여 결정되며 딜리버리 사양 및 각 테스트 시스템의 데이터 시트에 이를 반영합니다.
딜리버리 세트에는 완전한 운영과 계측 문서 및 초 기 캘리브레이션 인증서가 포함되어 있습니다.
제조사 보증 및 운영자 지원
FORMULA® 테스트 시스템의 운영 중 보증 서비 스 및 유지보수는 개발자 및 제조사인 FORM이 제 공합니다.
하드웨어 보증은 1년이며 보증 수리 및 당사 엔지 니어가 직접 방문하여 ATE를 보증 수리 및 계측 캘리브레이션하는 서비스도 무료로 제공합니다.
At the end of the warranty period, FORM offers Clients a 보증 기간이 만료된 경우, FORM은 고객에게 서비 스 계약을 제공하며 고객 개인별 요청에 따라 기술 서비스 및 계측 서비스를 제공합니다.
FORM 기술 지원 서비스를 통해 FORMULA® 테 스트 시스템 사용자는 다음과 같은 서비스를 제한 없이 무료로 누릴 수 있습니다.
- 터미널 세션 중 전화 및 이메일, 팩스를 통한 자 문과 FORM에 직접 방문 자문
- 불만 발생시 계측 분석 지원
- ATE에 대한 원격 진단(오류 검출 포함)
- 소프트웨어 버전 업데이트
- 유지보수 및 수리
- 새 ATE 옵션 및 새 테스트 솔루션에 관한 정보
딜리버리 시간 및 가격
FORMULA® HF3 테스트 시스 템의 딜리버리 시간은 구성에 따라 9 ~ 15주입니다.
비용에는 다음 사항이 포함되어 있습니다
- 1년 보증
- 고객의 주소로 배송되고 고 객 지정 장소에서 ATE 설치 및 연결
- 테스트 프로그램의 FORMULA® ATE 운영 개발 규칙에 대한 고객이나 직원에 게 교육 실시
- TestBox® 테스트 솔루션이 적용된 테스트 시스템 시운전